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EnglishFT 平移式分选设备
FT 平移式分选设备
CIS（CMOS Image Sensor）平移分选测试机是一种用于CMOS图像传感器芯片的自动化测试与分选设备，主要应用于半导体制造的后道工序。其核心功能是通过高精度平移机械臂将芯片移动到测试工位，完成电性测试、光学性能测试。
应用场景: CIS，光通讯，MEMS，存储芯片，功率器件等。
产品咨询电话：13811928592（毛总）
产品咨询邮箱：jian.mao@incubecn.com
应用场景: CIS，光通讯，MEMS，存储芯片，功率器件等。
产品咨询电话：13811928592（毛总）
产品咨询邮箱：jian.mao@incubecn.com
适应芯片封装规格：QFP, BGA, Micro-BGA, PLCC, TSOP, CSP, PGA
专为TT时间长的大批量生产设计的多位测试能力
更高的UPH满足快速生产需求
在大规模运行中仍保持低故障率
高精度视觉对位取放料
自动调整产品取放吸吹力
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